LABORATORIO DE  MICROSCOPIA

CINVESTAV UNIDAD MERIDA

 

      

 

Investigador Principal

Dr. Andrés Iván Oliva Arias

 

Líneas de Investigación

Línea General

Preparación y caracterización de materiales metálicos y semiconductores en forma de película delgada, mediante técnicas de Microscopía de Efecto Túnel (STM), Microscopía de Fuerza Atómica (AFM), y Microscopía electrónica.  Instrumentación Científica.

 Líneas específicas:

 1. Películas delgadas metálicas: Actualmente se tiene en desarrollo un proyecto apoyado por el CONACYT-México 38480-E (2002-2004) para estudiar las propiedades térmicas y eléctricas de películas delgadas metálicas (oro, aluminio y cobre) que se utilizan en la industria microelectrónica.

Se depositan por evaporación térmica sobre diferentes sustratos (vidrio, silicio y mica) y con diferentes espesores y se caracterizan haciéndoles pasar diferentes valores de corriente eléctrica a través de electrodos.

Para la caracterización eléctrica se cuenta con la técnica de cuatro puntas usando equipos interfaseables via HP-IB. Para la caracterización de propiedades con microscopios de alta resolución (AFM, SEM y STM), así como  difracción de rayos x.

Se estudian los coeficientes de resistividad eléctrica, la resistividad eléctrica, los coeficientes de dilatación térmica y los esfuerzos ocasionados por el paso de la corriente, como función del espesor y del sustrato utilizado.

 

2. Películas delgadas semiconductoras: Se estudia el sulfuro de cadmio (CdS), compañero ideal del CdTe, como semiconductor que filtra parte del espectro que daña a la celda solar. El semiconductor se prepara en forma de película delgada por la técnica de depósito químico por dos modalidades: agitación magnética y vibración ultrasónica.

Se caracterizan sus propiedades ópticas, morfológicas, eléctricas y estequiométricas con un espectrófotómetro que trabaja entre 300 y 800 nm, un sistema de van der Pauw-Efecto Hall y la técnica de Auger.

Se estudian las interfases CdS/sustrato y CdS/CdTe para evaluar las propiedades eléctricas en futuras aplicaciones de celda solar en forma de película delgada.  

Esta línea de investigación se realiza con la colaboración de Dr. Juan Luis Peña Chapa, Dr.Román Castro Rodríguez, Dr Rodrigo Patiño, Dra. Patricia Quintana y Dr. Pascual Bartolo Pérez investigadores del mismo departamento.

 

3. Modelos de escalamiento dinámico: Se utilizan y desarrollan modelos matemáticos para interpretar el proceso de crecimiento de las películas, basados en los datos verticales que se obtienen de las imágenes de AFM/STM.  En este proyecto se cuenta con el apoyo internacional del Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM) del CSIC, España.

sugerencias: Mauricio Romero

Tel: (52) 999 1242100 ext 2136 y 2259

Fax: (52) 999 9812917

 

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