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TÉCNICAS Y SERVICIOS DISPONIBLES


Área de difracción y dispersión de rayos X


Difracción de rayox X


La difracción de rayos X (DRX) es una técnica fundamental para estudiar materiales sólidos con redes cristalinas periódicas; que permite realizar la identificación de fases mineralógicas, análisis cuantitativo de mezclas polifásicas, estudio de cristales con orden atómico estructural de largo alcance, análisis de agregados cristalinos y determinar los efectos de esfuerzos en la red cristalina. Este equipo permite analizar muestras de polvos, sólidos, películas delgadas, microdifracción; etc en un amplio rango angular desde 0.1 hasta 165° (2 theta). Permite conmutar entre las ópticas de Bragg-Brentano y de haces paralelos (haz rasante) en forma sencilla sin necesidad de herramientas, tanto en óptica primaria como en óptica secundaria. Además, el sistema posee un detector de alta velocidad que permite realizar mediciones ultrarrápidas, cuenta con un portamuestras automatizado para nueve posiciones y con una cámara de alta temperatura para realizar calentamientos in-situ desde temperatura ambiente hasta 1,200°C.


Dispersión de rayos X a bajo ángulo y ángulo amplio


Para el caso de nuevos materiales que presentan diferentes tipos de orden atómico, ya sea un ordenamiento regular, disperso al azar, o un estado intermedio entre los dos, como las macromoléculas, materiales mesoporosos, mesoscópicos, biomateriales, nanomateriales, etc. se utiliza la combinación de la difracción de los rayos X junto con las técnicas de dispersión de rayos X a bajo ángulo o a ángulos amplios (SAXS-WAXS). El modo SAXS registra un intervalo angular muy bajo (0.1 - 10°) y permite obtener información acerca del tamaño y forma del nanomaterial, distancias características de materiales parcialmente ordenados, tamaños de partícula, distribución de partículas, superficie específica etc. con tamaños de 5 hasta 25 nm. En el caso del modo WAXS registra intervalos mayores de 5°, por lo que la información corresponde a un rango de la escala atómica hasta 0.1nm.

Esta técnica es particularmente útil en el estudio de materiales cristalinos complejos, tales como compositos de polímeros-minerales, sistemas micelares y vesiculares (surfactantes), encapsulación de medicamentos, en biomateriales se han estudiado las cavidades ocasionadas por caries en dientes humanos para estimar la forma y tamaño de los poros formados entre los cristalitos de hidroxiapatita; mientras que en materiales porosos se ha calculado el área superficial interna. Además permite estudiar cambios en la estructura de materiales poliméricos tales como fibras de celulosa natural, hule natural, nylon etc.

El área de difracción y dispersión de rayos X ofrece los siguientes servicios: